电子散斑干涉(ESPI)实验装置 WSG-1型
产品介绍 本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面,再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹,以测定其离面位移的新型,先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。 仪器特点:自己调节光路,可提高动手能力; 采用了**处理光学信息的CCD测量技术 计算机处理图象,软件操作简便 可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。 成套性:CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调节杆、光学零件、被测样品。 技术参数: 本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面,再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹,以测定其离面位移的新型,先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。 仪器特点:自己调节光路,可提高动手能力; 采用了**处理光学信息的CCD测量技术 计算机处理图象,软件操作简便 可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。 成套性:CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调节杆、光学零件、被测样品。 主要特点: 本实验装置主要面向大专院校教学使用。本实验是用激光光束直接照射到测试表面,再用CCD采其变形前后表面散斑颗粒干涉形成的条纹,以测定其离面位移的新型,先进的测试技术。本实验装置可以使学生了解其原理和测量的方法。 仪器特点:自己调节光路,可提高动手能力; 采用了**处理光学信息的CCD测量技术 计算机处理图象,软件操作简便 可利用软件画出测试表面受力变形后的三维立体图。 成套性:CCD摄像头、氦氖激光器、图象采集卡、图象处理软件、精密调节杆、光学零件、被测样品。 |
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